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量子点的形成对Si/Ge界面互扩散的影响
量子点的形成对Si/Ge界面互扩散的影响
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hordark
【摘 要】
:
在Si(100)衬底上低温生长了一层完全应变的Ge层,高温退火形成量子点,我们用喇曼光谱研究了量子点形成时Si/Ge界面的互扩散现象,实验表明量子点的形成伴随着Si/Ge原子之间的互扩
【作 者】
:
周星飞
施斌
等
【机 构】
:
宁波大学物理系,复旦大学应用表面物理国家重点实验室
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2002年7期
【关键词】
:
量子点
Si/Ge界面互扩散
分子束外延
硅衬底
喇曼光谱
Si/Ge interface interdiffusion
quantum dot
MBE
【基金项目】
:
国家自然科学基金资助项目 (批准号 :6 9776 0 10 )~~
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在Si(100)衬底上低温生长了一层完全应变的Ge层,高温退火形成量子点,我们用喇曼光谱研究了量子点形成时Si/Ge界面的互扩散现象,实验表明量子点的形成伴随着Si/Ge原子之间的互扩散,通常在Si衬底上形成的是SiGe合金量子点,而不是纯Ge量子点。
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