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复杂度和工作频率提高一直是半导体技术演进的一个重要因素,这给最终用户带来了很大好处,但也给测试新器件的设计人员或测试工程师带来了挑战.由于复杂性和工作频率不断增长,工程师必须找到能够全面满足被测设备需求、而又经济高效的测量解决方案.本文将专门介绍信号源在半导体测量应用中的使用,考察信号源测量仪器如何帮助用户精确地测试基本半导体设备的性能特点.