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本文提出一种用直线四探针测量金属／半导体欧姆接触的电阻率ｐｃ的简捷方法－单点圆形模型，样品制备只需一个圆形金属电极，导出了ｐｃ的表达式。如果样品不是半无限大，而是有一定厚度的薄片，则必须进行了修正，给出了导电与绝缘界面两种情况的修正因子。根据这个模型，进行实验测量和计算，所得结果与文献报道一致。