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期刊论文
无铅焊接工艺中常见缺陷及防止措施(2)
无铅焊接工艺中常见缺陷及防止措施(2)
来源 :电子电路与贴装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:loveni978
【摘 要】
:
无铅化电子组装中,由于原材料的变化带来了一系列工艺的变化,随之产生许多新的焊接缺陷。本文针对“晶须”现象、离子迁移和元素污染三种缺陷进行了产生机理分析,并给出了相应的
【作 者】
:
史建卫
王乐
梁永君
王洪平
柴勇
【机 构】
:
日东电子科技深圳有限公司
【出 处】
:
电子电路与贴装
【发表日期】
:
2007年2期
【关键词】
:
无铅
焊点
晶须
离子迁移
元素污染
Lead-free
Solder Joint
Whisker
Ion Migration
Element Cont
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无铅化电子组装中,由于原材料的变化带来了一系列工艺的变化,随之产生许多新的焊接缺陷。本文针对“晶须”现象、离子迁移和元素污染三种缺陷进行了产生机理分析,并给出了相应的解决措施。
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