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随着大规模集成电路（ＶＬＳＩ）设备的实时测试和单芯片系统时代的到来，集成电路ＡＴＥ设计人员忙于推出新的设计方案。他们不仅致力于测试技术的更新，更关注测试成本的降低，此外，全新的设备封闭使节点测试日益困难，印制电路ＡＴＥ制造商为了保证所要求的高故障覆盖区，正努力改进测量流程。编辑部访问了几个主要的集成电路ＡＴＥ和印制板ＡＴＥ制造厂商负责人，并提供了新产品信息和９８年的开发计划。