Si腐蚀工艺的优化

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sncyk
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腐蚀si时工艺顺序不同,得到的si片表面状态也不同,导致器件的反向泄漏电流不同。通过工艺试验研究,获得了优化的腐蚀si工艺条件,得到了平整的si表面,从而提高了器件的可靠性与生产的成品率。
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