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从缺陷造成电路故障的机理出发,给出了芯片故障概率和成品率的计算新模型.利用IC功能成品率仿真系统XD-YES对实际电路XT-1成品率参数的提取,同时利用新模型进行计算,其结果与实际结果符合很好.
一种有效的IC成品率估算模型
【摘 要】
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从缺陷造成电路故障的机理出发,给出了芯片故障概率和成品率的计算新模型.利用IC功能成品率仿真系统XD-YES对实际电路XT-1成品率参数的提取,同时利用新模型进行计算,其结果与
【机 构】
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宝鸡文理学院数学系,西安电子科技大学微电子所
【出 处】
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半导体学报
【发表日期】
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2002年2期
【基金项目】
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国家科技攻关 96-73 8资助项目~~
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