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研究了直接在ZnAl2O4/α-Al2O3衬底上用MOCVD法一步生长GaN薄膜,利用脉冲激光淀积法在α-Al2O3衬底上淀积了高质量ZnO薄膜,对ZnO/α-Al2O3样品在1100℃退火得到了具有ZnAl2O4覆盖层的α-Al2O3衬底,并在此复合衬底上利用光加热低压MOCVD法直接生长了纤锌矿结构GaN.X射线衍射谱表明反应得到的ZnAl2O4层为(111)取向,扫描电子显微镜照片显示随退火时间从小于30min增加到20h,ZnAl2O4表面均匀的岛状结构衍变为突起的线状结构,相应的GaN X射线