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针对集成电路壳体坯件上的联结芯片和外部引脚的导线进行检测,基于和标准件相比较的原理,结合实际生产,建立了光电自学机检测系统。此系统对被检件形式上的改变具有高度的柔性,而且具有抗环境因素干扰、检测速度快等优点。对某一形式的被检件检测过程分为两步骤:自学过程和自动检测。如果改变被检件的形式,只需重新进行一次自学过程,对系统无需进行大的调整和编程