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[学位论文] 作者：张寅辉,,
来源：太原理工大学 年份：2004
随着集成电路集成度增加,材料制备工艺的发展以及工业的需要,半导体薄膜栅介电层的厚度逐渐发展到了纳米级别。传统SiO2半导体材料由于介电常数低,导致隧穿电流击穿介电层,已...
[期刊论文] 作者：张寅辉,
来源：商业研究 年份：2004
社会主义的优越性之一,是能最大限度地解放生产力。建国后,我国劳动人民当家做了主人,因而产生了强烈的主人翁意识和高度的革命责任感,夺取了一个又一个社会主义建设的伟大...
[期刊论文] 作者：张寅辉,
来源：城市建设理论研究 年份：2014
摘要：当一项建筑工程从设计变成现实，它所经历的过程中必定会存在一些问题，而且有一定的连贯性，尤其是在施工过程中更加突出。所以，加强施工过程中的现场管理非常重要，管理人员一定要给予高度重视。本文分析了建筑施工现场管理中存在的问题，并对这些问题提出了解决对策......
[期刊论文] 作者：张寅辉,王谦,
来源：中国设备工程 年份：2021
目前我国经济社会发展迅速,科学技术水平较高,已经迎来了信息化时代,信息技术在很多行业的应用都十分广泛。建筑工程和人们日常生活密切联系,信息技术的应用能够进一步提升工程效率和质量,推动我国建筑行业的稳定发展。本文分析信息技术在建筑工程管理应用中存......
[期刊论文] 作者：王谦,张寅辉,
来源：中国设备工程 年份：2021
随着近年来经济的不断发展和进步,我国当下的城市化建设水平不断提升,建筑业也得到了高速发展,在施工的过程中,提升管理水平对企业的整体竞争力十分重要,进度的管理是关键的部分,是企业进行施工管理的重点。在具体的施工中,强化监督管理的重要意义不仅能够保证......
[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,刘小萍,
来源：发光学报 年份：2018
HfO2薄膜厚度达到纳米级别时，其光学性质会发生变化。光谱椭偏仪能够同时得到纳米尺度薄膜的厚度和光学常数，但是由于测量参数的关联性，光学常数的结果不准确可靠。本文采用溯源......
[会议论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,刘小萍,
来源：第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 年份：2016
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[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu Weien,刘小萍,
来源：计量学报 年份：2017
为了建立厚度为1 nm左右HfO2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模型。研究了HfO2超薄膜的光谱椭偏色散模型和拟合参数,最后确定了拟合色散模型为Ta......
[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu Weien,刘小萍,K,
来源：计量学报 年份：2017
为了建立厚度为1nm左右HfO2超薄膜的光谱椭偏测量方法，采用掠入射X射线反射技术进行国家／地区实验室间比对认证，其膜厚准确量值作为参比值，建立了HfO2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模......
[期刊论文] 作者：张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu Weien,刘小萍,K,
来源：计量学报 年份：2017
为了建立厚度为1 nm左右HfO2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO2超薄膜的光谱椭偏结构...
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