搜索筛选:
搜索耗时0.7182秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 93 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者：陶光仪,
来源：分析试验室 年份：1997
本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱法”学科的第六篇评述，它收集了国内学者１９９４年７月到１９９６年６月期间发表的在国内外刊物上的１４９篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和......
[期刊论文] 作者：陶光仪,,
来源：中国陶瓷 年份：1991
本文提出了一个用于分析中国古陶瓷胎和釉中十个主、次量组分的非破坏X-射线荧光光谱方法。该方法最重要之特点是试样仅作短时间的X光照射,因此无论如何不会损坏样品。这一点...
[期刊论文] 作者：陶光仪,
来源：冶金分析 年份：1994
本文对Ｘ射线荧光光谱测定中的定性，半定量和定量分析用的计算机软件近年来的新进展进行了简要的评述，并列出参考文献３９篇。...
[期刊论文] 作者：陶光仪,
来源：分析试验室 年份：2000
...
[会议论文] 作者：陶光仪,
来源：全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会 年份：2005
1968年美国分析化学杂志(Anal.Chem.)第40卷上连续发表了美国海军研究实验室科学家的两篇重要文章,第一篇首次测定了波长色散X射线荧光光谱仪用X光管原级谱的强度分布,第二篇...
[会议论文] 作者：陶光仪,
来源：第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会 年份：2002
本文对超大规模集成电路生产控制中X射线荧光光谱分析的应用做了探讨,并BPSG/SiO膜层膜厚与成分分析为例介绍了XRF薄膜分析仪在半导体工业设计的应用....
[会议论文] 作者：陶光仪,
来源：帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会 年份：2008
X射线荧光(XRF)可以用于薄膜和镀层试样中组分和厚度的同时测定，不少人了解甚少。本文首先分析了X射线荧光计算薄膜及镀层样品强度的原理，然后简单介绍了不同类型的薄膜和镀层试样用软件进行分析的应用实例，最后指出XRF分析技术能对多层薄膜及镀层试样组分和厚度的......
[期刊论文] 作者：吉昂,陶光仪,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1985
Criss等提出的基本参数法已成为X射线荧光分析中用数学方法校正元素间吸收-增强效应的三个主要方法之一,且是其中另一方法即基本参数法和影响系数法相结合的方法的基础...
[期刊论文] 作者：陶光仪,张中义,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1994
本文提出了一个用Ｘ射线荧光光谱法分析熔铸ＡＺＳ耐火材料中十个主，次量组分的全分析方法。样品用熔融法制备，用理论影响系数法校正元素的吸收－增强效应。...
[期刊论文] 作者：陶光仪,吉昂,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1999
本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层，最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可......
[会议论文] 作者：王静,陶光仪,
来源：第四届全国计算机化工学术会 年份：1993
...
[会议论文] 作者：王静,陶光仪,
来源：第四届全国计算机化工学术会 年份：1993
...
[期刊论文] 作者：陶光仪,吉昂,
来源：分析试验室 年份：2000
1999年 9月中旬 ,位于英国伦敦北面约三小时火车旅程的 Durham小镇 ,又迎来了两年一次的第 2 1届 X射线分析会议。这次会议仍然包括了 X射线荧光 ( XRF)和 X射线衍射 ( XRD)...
[期刊论文] 作者：陶光仪,吉昂,,
来源：化学学报 年份：1982
本文提出了一个新经验校正方程,用以校正X射线荧光分析中的吸收-增强效应.它以影响系数和基体元素浓度间的相互关系的两次曲线拟合为基础.在该校正方程中,吸收效应和增强效应...
[期刊论文] 作者：吉昂,陶光仪,,
来源：分析化学 年份：1983
基本参数法是利用X射线荧光强度的理论公式计算试样各组分浓度的方法。该法的优点是仅需纯元素作标样甚至不用标样即可进行多组分的试样分析。1968年Criss等提出这一方法后,...
[期刊论文] 作者：陶光仪,裴立文,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1992
本文研制了为PW1400、PW1404、PW1600和PW1606谱仪建立的数据文件进行读写的专用软件。作为应用的例子,一是读取PW 1400谱仪测量后所建立的未知样文件,然后作均匀性检验;另一...
[期刊论文] 作者：裴立文,陶光仪,
来源：分析化学 年份：1991
本文研究了不同价态锰的化合物熔融前后Mn Kβ1,3二级衍射线位置的变化后,证实大洋锰结核中锰主要以+4价形式存在,而不同价态锰的化合物经熔融后显示相同的峰形和峰位。以理...
[期刊论文] 作者：陶光仪,卓尚军,
来源：化学学报 年份：1998
提高理论相对强度计算准确度对Ｘ射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要，本文对Ｘ射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨，考察了谱仪几何因子的不准......
[期刊论文] 作者：陶光仪,卓尚军,
来源：分析化学 年份：1998
通过与合成标样实测相对强度的比较，研究了影响ＸＲＦ中理论计算相对强度准确２度的主要因素，提出了μ＋τ计算模式的一个混合的质量吸收系数算法。...
[期刊论文] 作者：刘尚华,陶光仪,
来源：无机材料学报 年份：1999
本文用粉末压片法制样，ＸＲＦ分析纳米粉ＺｒＯ２－ＣｅＯ２－Ｌａ２Ｏ３中主，次量元素，研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响，随着粉碎时间的的延长和压力的增大，元素的荧光强度逐步上升，阳后达到一个坪区，在相同的......
相关搜索：
