光电极值法相关论文
提出了一种提高光电极值法中膜层厚度监控精度的新方法。通过提高判读点的精度, 避免了光学极值法中停镀时存在的随机误差; 通过算......
本论文以光电极值法为基本理论,以现代网络传输技术为基础,实现了光学薄膜厚度网络监控系统.论文中主要描述了光电极值法的基本原......
近年来，光学薄膜的应用领域不断扩展，这些应用领域对光学薄膜元器件性能的要求也越来越高，推动了光学薄膜技术不断的发展。光学薄膜制......
我们对“光电极值法”测厚多层介质膜镀膜机的性能作了改进，取得了明显的效果，可以说几个主要指标；如保持基片和膜层的清洁，膜层厚度的......
简要介绍了光学滤光片的制造与使用状况,讨论了获得高质量的光学滤光片的条件,简单分析常用方法中光电极值法的固有缺陷,提出一种......
给出了石英晶体振荡法监控膜厚的基本原理,在相同的工艺条件下分别用光电极值法和石英晶体振荡法监控膜厚,对制备的增透膜的反射光......
分析了确定基片架上最佳沉积区域的重要性,采用一种简单可行的试验方法,对ZZ-SX500型光学镀膜机的拱型基片架进行了研究,给出了试......
膜层厚度的精确控制是提高光学薄膜性能的关键技术。利用膜系的特征矩阵分析了吸收膜层消光系数对监控的影响，并给出了实例分析。给......
光学薄膜在现代科研及生活中得到广泛应用,但制备高性能的薄膜不仅需要先进的镀膜制备技术,还需要优良的膜厚监控技术。本文先介绍......
光电极值法是光学薄膜厚度监测的常用方法,该方法在镀膜前引用块状材料的折射率设计膜系。而在实际镀制过程中,用于镀制光学薄膜的......
