近年来,随着集成电路的不断发展,芯片规模越来越大,复杂度越来越高。芯片集成度的增大,给设计和测试带来了诸多挑战,其中测试已成......

随着集成电路制造工艺的不断进步,单个芯片上集成的晶体管数目越来越多。晶体管数目的增加导致测试数据量成倍增长,巨大的测试数据......

为了提高大规模集成电路可测性设计（Design For Test,DFT）的故障覆盖率,减少测试时间,通过分析自我测试（Self-Testing Using MISR and......

为了减少测试数据量，提出一种利用数据中大量无关位的特殊相关性进行编码压缩的方法，压缩步骤分两步，先选定参考数据，然后利用相关性将......

传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测......

随着经济技术的发展和人们安全意识的提高,作为在安全方面应用最早且最广泛使用的视频监控显得愈发重要。它利用摄像机使相关人员......

集成电路作为新一代信息战略产业的基础,工艺、封装、应用的发展对测试提出了诸多挑战,同时测试作为集成电路产业链的一环,与设计......

随着半导体工艺的发展和设计水平的提高,芯片设计业进入了系统级芯片时代,大量地运用预先设计好的标准IP模块来构建SOC芯片的方法......

集成电路在制造过程中难免会产生缺陷,测试是保证成品率的重要手段。然而电路复杂度的快速增长给测试带来了巨大挑战。可测试性设......

集成电路测试技术在集成电路的设计、生产和制造过程中有着重要的意义。为使电路中存在的故障信号能够表现出来，完成集成电路的测试......

在半导体工艺和集成电路制造技术飞速发展的今天,系统芯片SoC(system on chip)的设计已成为国际超大规模集成电路的发展趋势和集成......