深能级瞬态谱仪相关论文
本文利用深能级瞬态谱DLTS技术,对器件的失效批理作了分析探讨。指出用DLTS技术,不必将失效器件启封,就可以区别是属于体内失效还......
深能级瞬态谱(Deep Level Transient Spectroscopy)是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段.根据......
会议
该文通过对晶闸管关断物理过程的分析得到，n基区深中心的最佳剖面分布应是：Nt(j2)＜Vt(j1)。经过一系列试验，根据深能级瞬态谱仪（DLTS）和......
利用直接键合单个晶界的样品，采用深能级瞬态谱仪(DLTS)中的单个瞬态电容的方法研究了硅中常见金属杂质镍对晶界电学性能的影响......
无论氢在电子器件内部以何种形式(H2分子、H原子或H+离子)存在，均会对电子器件电离损伤产生作用，进而影响器件的抗辐照能力。本文深......
深能级瞬态谱仪能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态,经过全面的数据分析,可以确定杂质和缺陷的类型、含量、陷阱密度、......
