硼薄膜相关论文
中子深度分析(Neutron depth profiling,NDP)技术能够用来测量距样品表面几微米范围内目标核素沿深度方向的分布,其深度分辨率可以......
采用电子束蒸发技术制备碳化硼薄膜，利用X射线衍射(XRD)分析了薄膜的结构，测量了薄膜的X射线光电子能谱(XPS)，并利用原子力显微镜......
本文采用磁控溅射法制备硼纳米晶体薄膜和硼纳米非晶薄膜,扫描电子显微镜(SEM)观察这些薄膜的表面形貌,能谱仪(EDS)和选区电子衍射......
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