膜去溶相关论文
建立了膜去溶与电感耦合等离子体质谱联用法（MD-ICP-MS）测定高纯氟化铍（BeF2）中的稀土元素，比较研究了冷雾化湿法与膜去溶干法进样技术......
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由于离子在ICP-MS中的复杂输运过程,需了解用该仪器进行痕量钚的同位素分析时数据的不确定度,本文用膜去溶进样系统与ICP-MS的联用......
文章建立了直接测定半导体二级40%含量氢氟酸(CMOSⅡ40%-HF)多元素含量的方法。以膜去溶作为进样系统,电感耦合等离子体质谱仪(ICP......
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稀土元素是研究矿物地球的重要物质,在地质科学领域应用非常的广泛.地质工作者通过研究稀土元素中的成分,可探究地质年龄,发现成矿......
文章建立了直接测定半导体二级40％含量氢氟酸（CMOSII40％-HF）多元素含量的方法。以膜去溶作为进样系统，电感耦合等离子体质谱仪（ICP—MS）作......
研究了不需基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯Eu2O3中的14种痕量稀土杂质的分析方法。讨论了Eu基体产生的多原子离子对被测元......
摘 要：随着去溶技术的成熟以及等离子质谱的大规模普及，实施膜去溶与等离子质谱联合测量的条件早已成熟，极大地方便了我们地质样品稀......
研究了不经基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质的分析方法,讨论了Ce基体产生的多原子离子对被测元素的......
应用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）分析环境地质样品中的Cd时,Zr、Mo元素的氧化物和氢氧化物会对Cd造成严重干扰,导致结果有明显的......
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利用高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级高纯氢氟酸中的痕量金属杂质,用膜去溶进样系统直接进样检测,无需前处理、快速,避......
文章建立了直接测定半导体三级甲醇多元素含量的方法。以膜去溶作为进样系统,四级杆电感耦合等离子体质谱仪(ICPMS)作为分析仪器,......
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由于富铀矿岩石中伴生有大量的钼矿,而电感耦合等离子体质谱法测定痕量镉含量时,钼的氧化物会直接叠加到镉的质谱峰,造成质谱干扰,......
利用高分辨电感耦合等离子体质谱测定半导体级高纯硝酸中的痕量金属杂质,用膜去溶进样系统直接进样,用标准加入法进行上机检测,无......
建立了膜去溶-ICP-MS直接测定各种地质样品中微量Ag的分析方法。详细比较了采用冷却雾室和膜去溶对降低氧化物和氢氧化物干扰的情......
利用高分辨电感耦合等离子体质谱测定电子级高纯异丙醇中的痕量金属杂质,用膜去溶进样系统直接进样,用标准加入法进行上机检测,无......
