部分扫描相关论文
随着社会信息化的不断完善,智能化的不断突破,集成电路产业在社会发展中的作用越来越重要。集成电路作为各类电子系统的基石,其安......
当前在工业上对集成电路的故障测试主要还集中于呆滞型故障的检测，而随着半导体技术的高速发展，使得芯片的运行速率不断上升，工艺的特......
该文对部分扫描的触发器选择作了深入的讨论,在原有的基于状态密度的扫描触发器造反的方法上作了改进,提出了一种改进的基于电路触......
随着集成电路的设计规模不断扩大和设计周期的逐渐缩短，系统芯片(SoC，Systemon-a-Chip)设计已成为芯片设计的主流。可测性设计因其能......
在分析全扫描内建自测试(BIST)过高测试功耗原因的基础上,提出了一种选择部分寄存器成为扫描单元的部分扫描算法来实现低功耗BIST.......
提出了部分扫描可测性设计中扫描链的选取方法，选取最小的触发器集至扫描链能打断电路中所有的反馈，同时使得电路成为流水线结构，采用......
本文首先论述了扫描设计与测试向量自动生成（ATPG）这种测试方法的关键技术，并由此为依据，提出部分扫描设计中，扫描链构造的分层次的三个......
为了解决基于FPGA的故障注入攻击仿真中,由于使用全扫描方法处理待测电路造成的逻辑资源消耗大的问题,提出一种用部分扫描电路实现......
基于现场可编程门阵列(Field Programmble Gate Array,FPGA)的硬件模拟平台以其比软件仿真更快的运行速度而被广泛地应用于芯片的......
系统芯片(SoC)的可测性设计分为两大类:嵌入式核(Embedded cores)内部测试结构的设计与优化;系统芯片级的测试设计与优化。本文研......
