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近年来，随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展，电子系统的性能也在大大提高，但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题；为了解决电路板快速诊断维修问题，嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向；本文从嵌入式测试的基本概念出发，介绍了嵌入式边界扫描、非侵入式测试等新的板级测试技术，并阐述了模拟嵌入式测试设计的难点和基础电路原则，最后讨论了嵌入式测试控制器设计方法和测试激励生成问题，同时给出了基于FPGA的嵌入式测试控制器设计方案；总体上，嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的，能够更好的降低产品整个寿命周期的测试维修成本。