升华法生长大直径SiC单晶

来源 :第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xkt376
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文报道采用升华法生长的大直径SiC单晶,升华过程是在低压高温下进行的,在解决了设备的稳定性和重复性问题后,得到可用来加工直径为两英寸晶片的6H-SiC单晶.同时还采用热力学理论分析了SiC的分解,结果表明在2300度附近的生长温度下,Si、Si<,2>C、SiC<,2>是Si-C热力学平衡下的主要物种,其平衡分压比同组分的SiC物种高出3个量级,因此它们是升华过程中的主要物种,其质量传输过程直接决定SiC的生长.
其他文献
阐述了角椎棱镜阵列作为伪相位共轭波器件的原理,仿真分析了角椎棱镜的单元形状、哈特曼-肖克波前传感器的缩束误差等因素对哈特曼-肖克波前传感器的波前复原能力的影响,指出了圆形角椎棱镜阵列具有较好的波前保真度.同时,也分析了角椎棱镜阵列本身的面形误差对哈特曼-肖克波前传感器复原精度的影响,给出了消除角椎棱镜阵列本身面形误差的方法.
综述了各种GaAs表面处理技术尤其是硫钝化技术的发展、现状以及趋势.GaAs的各种硫化物钝化方法在改善GaAs表面特性和GaAs器件性能方面都具有一定效果,但是研究者们对硫钝化影响GaAs表面特性的机理还没有统一的认识.比如:陈溪滢认为硫钝化后GaAs器件性能的改善是由于钝化消除了表面态,使能带弯曲减小了;但有人发现负电荷表面态密度的增加有利于提高GaAs MESFET的击穿电压.笔者认为,硫钝化