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会议论文
半导体器件的中子辐射效应研究
半导体器件的中子辐射效应研究
来源 :第十二届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:myth_liu
【摘 要】
:
中子辐射在器件制作工艺和抗辐射研究中占有重要的地位。本文介绍了半导体器件的中子辐射效应,包括位移效应和电离效应,分析了国内外半导体器件中子辐射的研究状况,对国内中
【作 者】
:
石晓峰
尹雪梅
李斌
姚若河
【机 构】
:
华南理工大学物理科学与技术学院 广州 510640
【出 处】
:
第十二届全国可靠性物理学术讨论会
【发表日期】
:
2007年期
【关键词】
:
半导体器件
中子辐射
制作工艺
位移效应
国内
辐射研究
辐射效应
电离效应
状况
地位
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中子辐射在器件制作工艺和抗辐射研究中占有重要的地位。本文介绍了半导体器件的中子辐射效应,包括位移效应和电离效应,分析了国内外半导体器件中子辐射的研究状况,对国内中子辐射的研究进展提出了期望。
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