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本文通过设计ESD测试芯片,验证四种ESD防护技术及其组合.芯片的整体构架采用锁相环加状态机的测试结构,最后流片采用DIP20封装.
ESD测试芯片的设计
【摘 要】
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本文通过设计ESD测试芯片,验证四种ESD防护技术及其组合.芯片的整体构架采用锁相环加状态机的测试结构,最后流片采用DIP20封装.
【机 构】
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国防科技大学计算机学院,湖南长沙410073
【出 处】
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全国抗恶劣环境计算机第二十三届学术年会
【发表日期】
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2013年期
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