【摘 要】
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静电放电(ESD)、铝腐蚀和电迁移是几类导致半导体器件失效的原因,由于这几类因素导致的失效是一种潜在的、进行性的失效,具有一定的隐蔽性和不可预测性,因此会对卫星的在轨可靠性产生严重影响.本文从产生原因、危害和预防措施三个方面对这几类可以导致半导体器件产生潜在损伤的原因进行介绍.
【机 构】
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中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心(北京)
【出 处】
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2003第十届全国可靠性物理学术讨论会
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静电放电(ESD)、铝腐蚀和电迁移是几类导致半导体器件失效的原因,由于这几类因素导致的失效是一种潜在的、进行性的失效,具有一定的隐蔽性和不可预测性,因此会对卫星的在轨可靠性产生严重影响.本文从产生原因、危害和预防措施三个方面对这几类可以导致半导体器件产生潜在损伤的原因进行介绍.
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