随着集成电路设计复杂性的提高,对其测试遇到越来越多的困难,此时可测性设计应运而生,其中特别以BIST(Built-In Self-Test,内建自测试)技术为代表,在集成电路设计中得到广泛的应用。但是BIST的伪随机测试生成具有测试时间过长,测试功耗过高的缺点,严重影响了测试效率。如果不解决这些问题,势必会影响BIST技术的发展和应用。　　针对这种情况,本文提出了基于LFSR(LinearFeedback Shift Register,线性反馈移位寄存器)—CA(Cellular Automata,细胞自动机)和遗传算法优化的低功耗BIST设计方案。该设计根据被测电路输入端口的权值,构造出相应的加权CA,然后在LFSR和加权CA共同生成的加权伪随机序列中插入若干中间向量,其作用是减少被测电路输入端信号的翻转次数,同时又对故障覆盖率有所贡献。而中间向量的数目和每个向量变化的位置,都是通过遗传算法的全局寻优操作得到的。本设计将LFSR-CA和遗传算法优化的低功耗结构结合起来,最终达到了降低测试功耗和缩短测试序列的双重效果。　　验证结果表明,该结构在保证故障覆盖率的同时,有效的降低了测试功耗,缩短了测试序列的长度,各项指标都符合设计要求。该设计有一定实用性,对电子测试领域的发展具有积极的意义。