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本文的主要内容为钛酸锶(SrTiO_3)铁电薄膜的相变与光学性质。SrTiO_3在动态随机存储器、超导体和微纳米电子学领域有很好的应用前景,故其相变和光学性质研究显得非常重要。首先,概述铁电薄膜相变的宏观和微观理论,重点介绍“软模理论”。然后介绍了显微Raman光谱、光致发光光谱(PL)、椭圆偏振光谱和原子力显微镜(AFM)等实验的基本原理及测量仪器。将用到以下实验仪器:显微Raman/PL光谱仪(Jobin Yvon LabRam HR 800UV)、变角度变波长椭圆偏振仪(W-VAS