硫酸铵是一种常用的氮肥,也是配置硫酸亚铁铵溶液的主要原料,构成离子为硫酸根离子(SO₄^2-)和铵根离子（NH₄⁺）,两种离子均属于著名的Hofmeister序列中的离子。但是,目前尚未有人对（NH₄）₂SO₄水溶液的微观结构进行过较为系统的研究。本论文分别采用X射线衍射技术、Raman光谱技术以及分子模拟技术研究了（NH₄）₂SO₄水溶液的结构,并在此基础上研究了K⁺与Cl^-对溶液结构的影响,同时对三种结果进行了对比。实验结果表明,随着溶液中氢键网络结构的破坏程度加剧,DDAA型与自由羟基型氢键网络结构所占比例下降,DAA、DDA、DA型氢键网络结构有不同程度的上升,且阴阳离子浓度上升到一定数值时,溶液中出现阴阳离子相互作用的离子对。其在X射线的衍射谱图上的具体表现为:13.5°处的主峰逐渐尖锐且向高角度偏移,18.5°处的肩峰逐渐消失;结构函数F（Q）在0.225 nm处的峰逐渐升高,在0.300 nm处的峰逐渐降低;Raman谱图中3200 cm^-1处的峰强度降低,3400 cm^-1处的主峰发生蓝移,且超额拉曼谱图中的正峰面积与负峰面积随之增大,增大趋势的转折点为溶液中接触离子对大量存在时的质量分数,在（NH₄）₂SO₄水溶液中为12.00%,在NH₄Cl水溶液中为15.00%;分子模拟研究中,O-O径向分布函数与O-H径向分布函数主峰向r值减小的方向偏移,对应峰面积降低,对应离子与水分子的径向分布函数主峰向r值增大的方向偏移,且峰面积减小,减小趋势转折点与溶液中接触离子对大量存在的点相同,同样的规律也发现在扩散系数的变化上;通过对混合溶液的研究可以发现,离子对溶液中氢键网络结构的影响强度为:SO₄^2->Cl^-,K⁺>NH₄⁺;并且SO₄^2-更易于与NH₄⁺形成离子对。