随着无线通信技术的迅速发展及无线设备的普及,无线设备辐射性能测试越来越受到制造商和运营商的关注。以往的无线设备辐射性能测试只关注独立测试的天线性能和电缆连接模式下的无线设备射频性能,忽视了无线设备整机性能,并不能精确的反映无线设备的真实情况,因此业界提出了侧重于测试设备整机辐射性能的OTA测试。CTIA标准规定OTA测试需要在微波暗室中进行,为了确保测量的精确性,对测量场地的性能必须严格把关,通常在进行OTA测试之前需要校准微波暗室、探头天线以及电缆的损耗及误差,为了极大的减少天线测量中的误差,需要采用具有良好圆度的校准天线进行校准。微波暗室的探头天线通常采用双极化(水平极化和垂直极化)天线,所以校准时既需要垂直极化校准天线,也需要水平极化校准天线,本文基于这一背景设计了一款具有良好圆度的三元“拐形”振子组合环天线,本文的主要研究工作如下:(1)结合相关文献详细分析了多振子组合环天线的基本结构、辐射原理及设计思路,并设计了一个六元振子组合环天线,通过HFSS软件分析了此类型天线的各个参数对天线电气性能和辐射性能的影响,包括S11、谐振频点及方位面的方向图圆度。(2)研究了简单三元振子组合环形天线的圆度性能,分析了耦合结构和“拐形”振子结构对三元振子组合环天线圆度的影响,对辐射单元进行了阻抗匹配设计,讨论了多种提升天线带宽的方法,最终设计出一款符合设计指标的三元“拐形”振子组合环天线。(3)在仿真分析的基础上,实际测试了天线的电气性能和辐射性能。实际测量结果表明该天线的谐振频率为2.35GHz,S11<-1 0dB的带宽为9.3%,在频带内最高频点的圆度为0.21dB,基本符合设计指标。