随着集成电路的快速发展,晶体管的尺寸越来越小,芯片开发者能够在芯片上使用的晶体管也越来越多,同时芯片的设计尺寸越来越小,其制造过程中的缺陷概率也会越来越多。由于晶体管数目的增加,测试数据量也随之增多,而测试数据量的增多必然导致硬件存储成本的提高和测试应用时间的增加。因此,应该有效的降低测试数据量和测试应用时间。本文在拆分压缩技术的基础上,对如何生成主分量集展开了研究,主要有以下两方面的工作:(1)提出了一种基于测试集自身向量的主分量生成方法。利用测试集向量间的相关性,首先通过贪婪算法和关系矩阵法找出所需的相容类,然后从相容类中选取出基向量,再将基向量进行异或得到矩阵,将此矩阵与取反后的矩阵组成新的矩阵,新的矩阵与测试集中的每一列进行对比,选取矩阵中与测试集最相近的列作为主分量,得到主分量集,最后将主分量集与原测试集进行异或,得到残分量集并进行编码压缩。与对测试集进行哈达玛变换相比,本方法由于生成主分量的向量是与测试集相关的,且有列向量能代替测试集中的部分向量,所以能够减少残分量集中1的个数,提高了压缩率。实验结果表明,用测试集自身向量生成主分量方法的压缩率高达77.94%,平均压缩率为73.83%,与对测试集进行直接编码压缩相比平均压缩率提高14.41%,与对测试集进行哈达码变换相比,压缩率平均有0.08%的提升。(2)提出了一种基于哈达码变换和测试集自身向量相结合生成主分量的方法。该方法基本思想是利用哈达码矩阵与测试集自身向量生成的矩阵拼成新矩阵,去更好的匹配原测试集,从而减少残分量集中1的个数。该方法先根据测试集的大小,选取哈达码变换所需哈达码矩阵的阶数,然后在位流的末端补X使测试集的大小与哈达码矩阵的大小相同,然后将哈达码矩阵与自身向量生成的矩阵组合成新矩阵,再根据主分量生成算法提取主分量,与原测试集异或生成残分量并压缩。实验结果表明,用测试集自身和哈达码变换相结合生成主分量的方法的压缩率最高达到了77.99%,平均压缩率为73.92%,与直接编码相比平均压缩率提高14.83%,比哈达码变换压缩率平均有0.17%的提升。