这篇论文是基于IPG科技有限公司的连续光纤激光打标机实验的基础上,激光标记质量的判断方法将被分析。最后,进一步优化该类型激光器,得到相应得优化后的激光参数。对于半导体封装的表面标识,激光打标是喷墨标记最主要的替代方法。激光打标系统已经广泛的被应用到IC表面的标记工艺中。在这篇论文中,主要是分析激光的标记质量。针对用激光标记的字母,主要采用数字图像分析的方法。在获得标记的数字信息后,主要利用统计学的相关分析方法衡量标记的清晰程度,并定义相关的标记的清晰标准。在清晰度衡量标准的基础上,利用灰度相关的方法优化激光打标系统。总的来说,主要包括以下几个步骤:①分析激光在IC封装表面标记产生作用的过程。②通过CCD照相机装置获得数字图像。③预处理数字图像,获得学习样本为得到模板做准备。④通过大量样本获得模板,进而得到激光标记部分的数字信息。然后,利用统计学的方法计算得到:对比度、方差、偏度。⑤用灰度理论优化激光参数本文中的标记质量的判断方法在实际的应用中证明是很有效果,通过被优化的激光参数所得到的标记更加清晰。本文中的结论对于IC表面的标记有一定的参考价值。