集成电路测试仪在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等各个阶段都发挥着举足轻重的作用,是保证集成电路的逻辑功能和动态参数指标符合技术要求的重要测试手段。本课题基于一种中小规模数字集成电路测试系统,研究了该系统中的时间参数测试板,完成集成电路动态特性的时间参数测试。本课题针对数字集成电路时间参数测试的问题,以数字集成电路时间参数测试系统为主要的研究对象,在深入分析了数字集成电路时间参数测试原理和时间间隔测试原理的基础上,对数字集成电路时间参数测试方法和FPGA延迟线插值原理作了创新性和探索性研究。主要研究内容为:1、分析了集成电路测试仪的发展状况和趋势,研究了常用数字集成电路测试仪时间参数测试的基本内容和测试方法,提出了本课题的测试方案。2、完成系统硬件平台的搭建。选用Altera公司的FPGA作为系统主控制器和协控制器。分析了系统硬件平台的测量需求,采用ECL逻辑电平的高速比较器、数据选择器和触发器完成了采样整形单元的设计。同时,采用在FPGA芯片构建延迟线测量时间间隔的方法,完成系统时间间隔测量单元的硬件电路的设计,最高测试分辨力达到125ps。3、完成了系统硬件FPGA逻辑和上层ARM9驱动程序的编写。针对数字集成电路测试仪平台和本课题时间参数测试板平台,分析了FPGA逻辑设计的原理和方法,以及ARM9底层驱动程序的编写方法和流程,完成了时间参数测量板整个硬件设计平台的驱动程序的工作。4、完成了系统硬件的动态性能的验证工作。研究了几种常用数字集成电路时间参数的测试方法,给出了测量结果,验证了系统的动态性能和指标。研究了当前系统存在的问题,对系统的几个关键技术点做了详细的分析和讨论,提出了在下一个工作阶段需要改进和提高的地方。