目前，集成电路测试面临两个大的问题：测试时间过长和测试功耗过高。而随着集成电路不断复杂化，测试变得更加困难。特别是对基于复用思想的SoC，虽然这种设计思想有利于减少设计成本，缩短上市时间，但测试这样复杂的系统变得异常困难。所以如何对集成电路进行高效的测试变得越来越重要。 本文以缩短测试时间和减少测试功耗为目标，首先介绍了一种新的低功耗的BIST结构，并在此基础上提出了一种新的基于低功耗BIST结构的系统芯片测试方法。这种测试方法的主要思想是：将系统芯片中的多个核分成若干个大小不同的组，每个组使用一个由线性反馈移位寄存器和映射逻辑组成的低功耗内建自测试结构来进行测试，其中，线性反馈移位寄存器和映射电路是用来产生有用测试向量的，也就是说，通过映射逻辑可以将无贡献的测试向量过滤掉。组与组之间的核进行并行测试，组内各个核进行串行测试。整个结构在给定的测试功耗限制下，以测试时间为优化目标，使测试时间最短。这种测试方法的特点是：首先本方法不用外部ATE，也不依赖片上存储设备；其次本方法是用低功耗BIST来产生SoC测试时所需要的测试向量，大大减少了测试功耗、减少了测试时间；第三，本结构中，部分核共用一个BIST结构，减少了硬件开销。实验结果表明本测试方法不仅大大减少了测试时间和功耗，而且代价不大。 接着本文又提出了一种新的基于状态种子的BIST策略，这种策略的主要思想是：通过统计LFSR的有用状态及其运行时间，发现LFSR的有用状态和运行时间所需要的存储空间很小，所以本策略是直接存储LFSR的状态种子及其运行时间来达到对电路的测试，实验结果表明这种方法无论在测试时间，还是在测试功耗以及所需要的存储空间上都显示出其高效性。