随着集成电路设计方法和工艺技术的提高，数字系统的性能越来越强，集成度也在迅速提高。特别是在系统芯片SoC(System-on-a-Chip)出现以后，业界对缩短芯片的设计开发周期、缩小产品体积及提高系统性能等方面的要求日益加剧。这种高速的发展也对测试提出了严峻的考验，有效地进行测试生成成为提高测试质量和测试速度的关键问题。近年来随着BDD(Binary Decision Diagrams)的理论和结构的完善，为其在集成电路设计和测试领域中的应用提供了基础。这其中包括集成电路的设计验证、逻辑综合及测试生成等方面。本文的主要工作如下：●介绍了集成电路测试的基本原理及分类、测试所针对的故障模型、故障压缩及测试中用于评估的常用度量。在集成电路测试部分重点介绍了主要的测试生成算法。随后对BDD的基础知识和相关操作算法做了阐述和讨论。●对BDD的变量排序优化算法做了初步的研究。在对BDD的精确算法进行研究的基础上，利用布尔函数中相邻对称变量的性质，对精确排序算法进行改进，消除了原算法的冗余操作。经实验证明，本方案在继承了原算法数学严密性和最优解优点的同时，有效降低了BDD变量排序的运算时间开销。●在对BDD和测试生成的布尔差分法研究的基础上，根据BDD的结构特点对布尔差分思想进行改进，提出针对单固定型故障的测试生成方法。在完整电路的处理上，通过原始输入(Primary Input，PI)和原始输出(Primary Output，PO)的依赖关系对电路进行分块处理。在各块子电路的处理中通过故障模拟进行故障摘除，从而减少需要处理的目标故障，降低了运算的复杂性。通过对ISCAS-85部分电路的实验结果表明，此方案能够对组合电路进行有效的测试生成。同时本方案能够识别被测电路的冗余结构，以及其相对完整的运算结果为测试集紧缩提供了可能。