10kV触头盒污秽、局部缺陷状态下的电场仿真研究

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随着我国电力系统的不断发展,开关柜以其结构简单、维护工作小、便于操作等优点大量应用于电力系统中。绝缘问题是电力设备安全稳定运行的关键影响因素之一。开关柜作为电力系统中重要的一员,研究其绝缘性能是十分必要的,而触头盒作为开关柜中重要的绝缘件,对可能导致其绝缘性能损坏的因素进行研究十分重要。目前国内外对于高压绝缘损坏的研究主要集中在高压绝缘子,从多个角度出发,对引起绝缘子损坏的原因进行了分析。但对于开关柜内部触头盒绝缘损坏的研究却不多。本文提出对开关柜母线室建立三维模型,从电场的角度分析污秽和气泡缺陷这
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