随着科学技术的发展,出现了许多可靠性高、寿命长的产品。因此人们需要在较短时间内得到产品的质量信息,这就要求改进一般的寿命试验方法,以能够在较短的试验时间内,获得寿命模型要求的失效样品数。对应力水平的控制就成为加速寿命试验关键，而温度作为一种主要的应力，通过对其控制来实现加速寿命应力水平的变化具有重要的意义。本文将ARM&Windows CE触控PC与单片机相结合，来对温度箱进行温度控制，并且提出了加速寿命试验温度控制系统的总体设计方案，介绍了系统的工作原理及各部分功能。系统采用DS18B20数字温度传感器对温度箱温度进行采集，将采集到的温度传送给单片机；利用触控PC来设定初始温度值，经过串口发送给单片机；单片机在接收到初始温度值后，与温度传感器测得的温度进行比较，经过PID算法得到控制量，然后将控制量通过占空比程序来控制加热电路功率；单片机每隔一定时间将当前温度发送给触控PC，我们可以通过触控PC观察到温度实时变化，如果温度大于设定温度一定值后，蜂鸣器会发出响声进行报警，并能将试验数据以文本文件的方式存储。在此基础上，完成了系统硬件电路、控制程序的设计。最后对该温度系统进行了步进温度应力试验，试验表明该系统能够对加速寿命试验进行温度控制。