电磁发射过程中电枢和导轨之间产生相对滑动,枢轨间接触状态时刻在发生变化,而接触状态的变化会使枢轨间接触电阻改变而导致打弧和烧蚀现象的出现。因此对枢轨间接触电阻的仿真分析可以探究打弧和烧蚀现象出现的原因,对改善电磁发射的发射状态具有重要意义。本文通过仿真分析对接触电阻的影响进行了研究,主要工作如下:运用有限元软件对发射C形电枢和圆形电枢的电磁轨道发射装置进行电磁场和结构场分析,计算电枢在发射过程中各个时刻枢轨间所受的洛伦兹力和过盈力,并根据枢轨间的接触压力分布划分枢轨表面接触区域,设置为不同的接触电阻。计算结果显示,洛伦兹力引起的侧向力远大于预紧力;C形电枢接触电阻变化急剧升高后急剧减小,然后缓慢增大到最大值;圆形电枢接触电阻缓慢减小然后逐渐增大到最大值将各个时刻不同的接触电阻代入电磁场和温度场进行分析,并将计算结果与理想接触下的计算结果进行对比,最终得出接触电阻对发射C形电枢电磁轨道发射装置的影响。对圆形电枢进行了电磁场与温度场分析,对比考虑接触电阻下计算结果和理想接触下计算结果,并观察接触电阻对发射圆形电枢电磁轨道发射装置的影响。