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针对火花源光谱仪,研究了被测元素与铁基体间光强变化的相关性,.结果表明,在正常的分析条件下,C(193.0nm),Mn(263.8nm),P(178.2nm),Cr(267.7nm),Cr(298.9nm),Ni(218.5nm)与铁基体具有强的相关性,而Si(288.1nm),S(180.6nm)则表现出与铁基体相关性较差.据此研究了各元素工作曲线的制作情况.