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针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法，该方法采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用ｎ（机器字长）个测试码并行的单故障传播方法模拟验证测试覆盖。测试生成与故障模拟为ｎ对１紧耦合集成方式。该方法运行１０个Ｂｅｎｃｈｍａｒｋ电路，取得了低测试长度，高故障覆盖，高效率的良好效果。