论文部分内容阅读
采用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱（MALDI-TOF MS）对对位芳纶的端基结构进行分析。以3-氨基喹啉为基质，三氟乙酸钾为离子化剂，采用蒸发研磨法（E-G）制备了测试样；为了获得具有较高信噪比的对位芳纶MALDI-TOF MS图，对基质与分析物比例进行优化，重点分析了少量残余硫酸对质谱结果的影响。结果表明：在反射模式下，样品制备选择基质/分析物比例为20∶1可获得较佳的质谱信号；样品中含有少量硫酸能够改善分析物与基质的结晶效果，减少脱羧作用的发生，降低氨基碎片丢失的几率，使得H/Na和H/K交换现象