【摘 要】
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利用干涉成像光谱技术被动探测上层大气风场所使用的光源主要是氧禁戒线极光.讨论了禁戒跃迁出现较强谱线需要的两个条件,对满足上述条件的上层大气中的原子氧(OⅠ)和离子氧(
【机 构】
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西安交通大学,西安交通大学,西安工程科技学院
【基金项目】
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国家自然科学基金，陕西省教育厅资助项目，西安理工大学校科研和教改项目
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利用干涉成像光谱技术被动探测上层大气风场所使用的光源主要是氧禁戒线极光.讨论了禁戒跃迁出现较强谱线需要的两个条件,对满足上述条件的上层大气中的原子氧(OⅠ)和离子氧(OⅡ)的可见光波段禁戒线进行了详细的计算,并对应指出产生这些O(Ⅰ , Ⅱ)禁戒线的光化学反应.得出的结论是被动探测上层大气风场所用极光源可以使用所指认的10条O(Ⅰ , Ⅱ)禁戒线和允许线: 557.7 nm, 630.0/636.4/639.3 nm, 672.8 nm, 732.2/733.2 nm, 777.7/777.6/777.4
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