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期刊论文
用于ULSI电路的超薄栅介质膜研究
用于ULSI电路的超薄栅介质膜研究
来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yohoban
【摘 要】
:
制备出6~7nm超薄栅NMOSFET。通过对器件性能的研究发现,适当条件下N2O制备的超薄SiOxNy膜比SiO2膜更适合ULSI的应用。
【作 者】
:
熊大菁
侯苇
【机 构】
:
清华大学微电子所
【出 处】
:
半导体技术
【发表日期】
:
1998年2期
【关键词】
:
超薄栅介质膜
击穿特性
ULSI
甚大规模
集成电路
Ultrathin dielectric filmBreakdown characteristicsLea
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制备出6~7nm超薄栅NMOSFET。通过对器件性能的研究发现,适当条件下N2O制备的超薄SiOxNy膜比SiO2膜更适合ULSI的应用。
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