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随着新一代电子产品的复杂化和密集程度的不断提高，电路和系统的可测试性急剧下降，传统测试技术已经不能满足需要；针对我国军用电子设备的测试及诊断工作需求，通过对IEEEll49系列边界扫描测试标准进行了研究分析，分析各标准的特征范围、适用对象、各标准相互关系，可以分析梳理IEEEll49标准在我国军用电子设备测试性设计中的可行性和适用性，探索得到将边界扫描技术在测试性设计上的应用思路；将边界扫描技术应用于电子设备不同范围的测试设计，能有效地解决传统测试性设计的问题，能够提升诊断能力，缩减产品生产周期及研制费用