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与离轴全息术相比,同轴全息术有着光学系统简单、对光源相干性要求低、只需使用低功率光源、并且受环境振动和扰动影响小等优势。然而,当被测颗粒的直径小于成像系统点扩散函数的直径时,图像噪音变大,难以保证粒径测量的精确性。针对此问题,本文就全息图像去噪、颗粒定位和颗粒数值重建等关键技术进行了研究与讨论。