测试控制器相关论文
本文介绍了北京谱仪电磁量能器读出电子学测试控制器的整体设计及对撞工作模式、校准工作模式和增益调节工作模式.......
描述BESⅢ电磁量能器电子学的测试控制器.测试控制器包括对撞,刻度,增益设置三种工作模式.设计中采用了FPGA技术.......
本研究针对Flash存储器的特点,分析了存储器的工作机制、故障特征和Flash存储器特有的测试算法。在此基础上,提出了一种针对嵌入式......
目前还没有一种直接的方法来测试控制器处理周期。本文提出了一种基于DCS内部模块实现的控制器处理周期测试方法。......
随着纳米技术的发展，以及IC设计和制造业技术的快速发展，高密度、高速、ASIC、SOC等新型芯片的不断涌现。基于传统的探针测试已经不......
随着待测芯片的集成度越来越高，单芯片多核设计、片上系统和叠层裸片技术等成为芯片设计的主流技术，JTAG已很难满足芯片设计对测试与......
随着芯片一体化进程的加速以及对功耗控制的关注日益增加,边界扫描技术面临新的挑战,这些挑战来源于调试、测试、应用等方面。紧凑......
边界扫描技术（JTAG）已在集成电路的可测性设计与故障诊断领域被广泛使用了二十多年，并发挥着重要作用。针对如今测试时需要精简引脚并......
测试维护总线是机载计算机测试技术研究的难点和关键技术之一，简要介绍了测试维护总线（testandmaintenancebus）TM－BUS控制器的设计，重点......
英国谢菲尔德大学与穆格深化合作，共同开发出具有材料应力与疲劳载荷双轴向测试所需高级功能的复杂控制回路系统，完成了Mayes双轴向......
在对SOC测试时，SOC测试结构的核心部分是测试访问机制（TAM）和测试调度控制器．文中设计了一种新颖的基于测试总线的SOC测试调度控制器．用......
测试维护总线是机载计算机技术研究的难点和关键技术之一，简要介绍了测试维护总线TM－BUS（test and maintenance bus)及其应用，论述的TM......
根据边界扫描测试IEEE1149．1技术标准，采用AVR单片机以及边界扫描总线控制芯片74ACT8990设计了边界扫描测试控制器；该控制器通过串口......
功能测试是信号产品生命周期中的重要阶段,而测试环境是功能测试的主要支撑,作为测试环境“大脑”的测试控制器在其中扮演着及其重......
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测试维护总线是机载计算机测试技术研究的难点和关键技术之一。简要介绍了测试维护总线ＴＭ－ＢＵＳ控制器的设计，重点论述了ＴＭ－ＢＵＳ的实现方案、ＴＭ－ＢＵＳ控制管......
学院在自动测试总线与系统、虚拟仪器技术、智能检测与控制、计算机辅助测试、光电检测技术与信息处理、集成电路测试等研究方向上......
阐述了机载实时容错分布式计算机系统测试体系结构及测试方法，并简要介绍了测试总线和测试控制器的设计。......
针对《国家学生体质健康标准(2014年修订)》的新要求,综合运用计算机技术、网络计算、传感技术等设计了一套学生体质测试自动化系......
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的......
穆格是伺服阀技术的发明者,还有包括先进的测试控制器和软件,先进的液压和电动作动器等都已经在欧洲和北美广泛地应用在汽车实验室......
为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描......
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近几年,半导体工艺和集成电路系统设计发展日新月异,系统级芯片正-步步成为超大集成电路的主流。SOC通常要集成多个已设计完成的IP......
在深入研究IEEE1149．7标准的基础上，针对测试问题设计了CJTAG测试控制器，实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能......
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