PAE效应是芯片在加工过程中,静电对栅氧化层的破坏性击穿效应.本文分析了PAE的成因,提出了几种估量PAE效应的算法,并提出了解决PAE......

分析了PAE效应(process antenna effect)的成因，并在此基础上提出了几种在深亚微米ASIC设计中消除PAE效应的方法．其方法应用于“龙芯......