PLZT薄膜相关论文
报道一种测量微小光学相位延迟的新方法,测定装置简单而且精度高,用于测量PLZT等薄膜材料的克尔系数。......
采用溶胶凝胶法，在单晶衬底(001)LaAlO3(LAO)上分别外延生长了LaNiO3(LNO)、PLZT/LNO/LAO薄膜。研究了外延生长多层薄膜的热处......
该论文介绍了椭偏光谱技术的反射和透射两种测量分析方法.利用了椭偏光谱的反射方法分析测量了几种光电薄膜材料的光学常数谱和薄......
锆钛酸铅镧[PbLa(Zr,Ti)O，简称PLZT]薄膜具有优良的介电、铁电、压电、电光等效应，广泛应用于微电容、动态随机存储器(DRAM)、非挥发......
采用溶胶 凝胶法在Pt Ti SiO2 Si衬底上制备了不同La掺杂浓度PLZT(x 4 0 6 0 )薄膜 .x射线衍射分析表明制备的PLZT(x 4 0 6 0 ......
用溶胶—凝胶技术及回旋法，在石英玻璃和单晶ｓｉ基片上制备ＰＬＺＴ（２８／０／１００）多晶薄膜；在ＳｒＴｉＯ３和α－Ａ１２Ｏ３单晶基片上外延生长择优取向薄膜．其外延关系分别为（１００）ＰＬＺＴ（２８／０／１００）／／（１００）ＳｒＴｉＯ３和（１００）ＰＬＺＴ（２８／０／１００）／／（０００１）Ａｌ２Ｏ３．用ＩＲ，ＸＲＤ．ＲＨＥＥＤ，ＳＥＭ和ＳＩＭＳ分析......
以硝酸镧、醋酸铅、钛酸丁酯和异丙醇锆为原料,乙二醇甲醚作溶剂.用简单的溶胶-凝胶法和快速退火工艺在Si(111)、石英和Pt/Ti/siO2......
用磁控射频溅射方法在不加热的硅衬底上沉积生长锆钛酸铅镧（PLZT）薄膜。由混浇法制备了两只氧化物靶材PLZT（5／65／35）和（9／65／35）。初生态薄膜......
采用金属有机分解法(MOD)在LNO(100)/Si衬底上制备了Pb0.985La0.01(Zr0.4Ti0.6)O3(PLZT)铁电薄膜.在薄膜的快速退火过程中,增加了......
采用溶胶凝胶法在Pt（111）/Ti/SiO2/Si（100）基底上制备掺镧锆钛酸铅薄膜（Pb1-xLaxZr0.52Ti0.4O3薄膜,简称PLZT）,掺杂La浓度分别为x=0%,1%,......
利用溶胶-凝胶技术制备PLZT薄膜,对样品进行X射线衍射和高频介电谱测试,结果表明：薄膜为钙钛矿结构,呈现[110]择优取向,100 MHz介电......
利用调制式的椭偏仪测量了掺镧锆钛酸铅PLZT薄膜的电光系数.首先用反射椭偏测量的方法得到薄膜的折射率(n)和厚度(d),然后利用透射......
采用溶胶-凝胶法在LNO/Si衬底上制备了（Pb1-xLax）（Zr0.52Ti0.48）1-x/4O3（PLZT）多晶薄膜.XRD图谱显示,通过600℃的快速热退火过程制备出了......
利用光学相控阵实现光扫描技术具有重要的应用前景。其基本构成单元是光移相器。采用具有电光效应、响应速度快、热稳定性高、耐强......
