椭偏测量相关论文
为保证计量型激光椭偏仪测量结果的准确性，研究了一种初始入射角校准方法，通过线性位移台带动CCD相机进行一维运动，其运动轴作为空间......
纳米薄膜兼具传统复合材料和现代纳米材料二者的优点,在集成电路、光伏电池、液晶面板等产业得到了广泛的应用。膜厚参数测量的准......
椭偏仪实现高精度测量的关键在于模型值的精准标定,而随机误差是影响标定精度的重要因素。从椭偏仪随机误差的产生原因入手,针对零......
在椭偏测量中,采用直通式标定方法准确标定出系统模型参数对于样品的精确测量至关重要。由于双旋转补偿器式Mueller矩阵椭偏仪(DRC......
本文描述了在正向入射条件下,当待测的各向异性反射面(如全息光栅)的两个笛卡儿本征矢方向与系统的指向有微小偏离时,椭偏测量的消......
在热辐射领域中,不同温度下辐射调控材料辐射特性的准确获取具有重大意义,其中材料温度依赖性光学常数数据的严重缺失,是制约其应......
依据穆勒椭偏测量方法中偏振光的传输方式,提出了一种椭偏系统中光学元件参数的定标方法.通过建立出射光强关于起偏器和检偏器透光......
椭偏技术是一种通过测量光束在介质界面上反射或透射时偏振态的变化情况来研究待测样品的光学性质和表面形貌的技术手段。椭偏仪测......
随机粗糙表面辐射及偏振特性研究在空间遥感、红外隐身、目标追踪等军民事领域具有广泛的应用前景。对随机粗糙表面光学常数和形貌......
学位
椭偏测量技术是利用光束在薄膜上反射和透射时出现的偏振变化,通过椭偏仪测量其椭偏参数的变化,用计算机处理由测量得到的椭偏参数......
随着薄膜材料和技术的不断发展,准确而快速地测量薄膜的光学常数和厚度受到了人们的广泛关注和重视.但对某些吸收性很强或厚度极薄......
线性电光效应的传统应用是电光信号调制、电光电压测量和光弹效应测量等。2001年，She等人提出的线性电光效应的耦合波理论为线性电......
作者使用椭偏理论并结合扩展边界条件法,得出亚波长正弦介质光栅的椭偏参数.分析了两个椭偏参数的特性,并对其特性的实际应用进行......
利用原子力显微镜(AFM)和椭偏仪对溅射制备的硅基Zn0薄膜的热退火表面形貌与椭偏特性进行了研究.结果发现:未退火或低温退火(≤850......
将自适应遗传模拟退火混合算法应用于薄膜椭偏测量的反演问题中。由于模拟退火算法的基本思想是跳出局部最优解而得到全局最优解,......
通过分析椭偏测量的复杂性可知椭偏角高精度测量的重要性,针对曾认为可提高测量精度的多角度测量法在不恰当地增加入射角时极易破......
结合XRD和原子力显微镜等方法，利用椭圆偏振光谱仪测试了单层SiO2薄膜（K9基片）和单层HfO2薄膜（K9基片）的椭偏参数，并用Sellmeier模型和Ca......
利用光谱型椭偏仪测量了镀在熔石英玻璃基片上的氟化镁薄膜在300~850 nm波长范围内的椭偏参数,并利用Levenberg-Marquardt算法,反......
详细介绍了使用椭偏仪测定薄膜的光学常数的原理，采用溶胶一凝胶法在普通载玻片上制备了均匀透明的TiO2薄膜，借助椭偏仪测量了薄膜的......
基于梯度的线性反演方法计算效率高,基于随机扰动的模拟退火方法寻找最优解能力强针对薄膜椭偏测量的多极值问题,综合两者的优点,......
针对多角度椭偏测量透明基片上薄膜厚度和光学参数时基片背面非相干反射光的影响问题,报道了利用椭偏透射谱测量等离子增强化学气......
利用调制式的椭偏仪测量了掺镧锆钛酸铅PLZT薄膜的电光系数.首先用反射椭偏测量的方法得到薄膜的折射率(n)和厚度(d),然后利用透射......
纳米级厚度薄膜在微电子、材料与化学工程、光学与激光技术等诸多科学领域有着广泛的应用。针对自动光度式椭偏仪的缺点及工业现场......
以SiH4为先驱气体,采用低频等离子体增强化学气相沉积(LF-PECVD)方法在Si衬底上制备了氢化非晶硅(a-Si∶H)薄膜。在薄膜沉积过程中......
伴随技术创新,光电器件逐渐微型化,也促使薄膜厚度越来越薄。以前可能被忽略不计的几个纳米厚度的超薄材料成为研究的焦点。这些超......
椭偏技术是一种通过测量光束在介质界面上反射或透射时偏振态的变化情况来研究待测样品的光学性质和表面形貌的技术手段。椭偏仪测......
为实现水面溢油目标的偏振遥感,选择合适的波段和观测角度,需要油膜的光谱偏振特性数据作支撑。在实验室采用椭偏测量的方法,针对......
研究了椭偏测量中多层薄膜拟和模型建立的过程，并对一未知多层光学薄膜进行了椭偏分析，建立了substrate／filml／EMA／film2／srough的物理结......
