X射线反射相关论文
本文利用低压MOCVD方法生长得到了无裂纹的2.5nmAlGaN/GaN超晶格,并对其进行了三轴晶X射线衍射(TXRD)、x射线反射(XRR)、高分辨透......
本文用直流磁控溅射的方法制备了3个系列含有不同厚度的Co/W的双层膜.用铁磁共振和振动样品磁强计测量了Co/W双层膜的磁学性质.用......
近年来,有机光电器件已经日益成为人们研究的焦点。相较于传统无机器件,有机器件具有效率高,生产成本低以及柔韧性好等特点。这几......
近年来,MgZnCa非晶合金引起了大量关注。一方面是因为其媲美于人体骨骼的一系列参数,如其杨氏模量大约在20-30 GPa、剪切模量大约......
为了研究不同沉积条件下四面体非晶碳(ta-C)薄膜的最佳沉积工艺,利用过滤阴极真空电弧系统制备在P(100)单晶硅衬底上以不同衬底负......
薄膜结构和光学性能表征是光学薄膜研究不可或缺的两个部分，为了适应溶胶-凝胶工艺在光学薄膜制备方面的发展需求，本文致力于薄膜结......
利用过滤阴极真空电弧系统制备了不同衬底偏压下非晶金刚石薄膜,分别采用X射线反射法测定了相应的非晶金刚石膜密度,分析了薄膜密......
采用磁控溅射方法制备了周期数分别为10,30,50和75的Ni/Ti多层膜,利用X射线掠入射反射测量了多层膜表面和界面的状态,并用原子力显......
本文在无紫外光照射下通过电化学腐蚀法制备了多孔n型15R-及6H—SiC，并用扫描电子显微镜（SEM），拉曼散射及X射线衍射仪（XRD）对多孔层的结......
为研究X射线反射技术在纳米多层膜界面微结构表征中的应用，采用反应磁控溅射技术在单晶硅基片上制备CrAlN／TiAlN纳米周期膜，利用x射线......
X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数......
Ｘ射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射Ｘ射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据......
采用X射线反射法（XRR）测试了在SiO2玻璃衬底上磁控溅射沉积的单层ZnO基薄膜的反射强度,得到了反射强度随掠入射角变化的曲线;讨论了......
We have deposited W/Si multilayer mirrors using the magnetron sputtering under the low sputtering pressure and the high......
采用磁控溅射方法制备了周期数分别为10,30,50和75的Ni/Ti多层膜,利用X射线掠入射反射测量了多层膜表面和界面的状态,并用原子力显......
本文介绍了德国布鲁克公司新一代的X射线粉末衍射仪＂D8 ADVANCE with DAVINCI design＂的光源、测角仪、光路系统、探测器和应用软件,......
介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备.利用设备采用X射线反射法,在不破坏样品的情况下......
本文介绍X射线粉末衍射仪对一面镀有有机导电薄膜的单晶硅片的研究，用X射线全反射(XRR)可以精确地测量平整光滑基底材料上薄膜的厚......
在洁净K9玻璃基底上沉积TiO2薄膜,将透射光谱和X射线反射光谱相结合分析获得膜层的厚度和光学常数。X射线反射谱拟合能精确得到膜......
分布式布拉格反射镜(DBR)作为垂直腔表面发射激光器,共振腔发光二极管和共振增强型探测器的重要组成部分引起了人们的广泛兴趣。将......
