二叉判决图相关论文
符号模型检查（ＳｙｍｂｏｌｉｃＭｏｄｅｌＣｈｅｃｋｉｎｇ，ＳＭＣ）是一种有效的形式验证方法．该方法主要有２个难点：一个是建模，即如何建立并用有限内存来表示电路的状态机模型；另一个是在此......
本文提出了一种结合二叉判决图BDD和布尔可满足性SAT的新颖组合电路等价性验证技术.算法是在与/非图AIG中进行推理,并交替使用BDD......
在基于逻辑电路的布尔推理过程中 ,经常用到二叉判决图 (BDD)与布尔可满足性 (SAT)相结合的算法 由于电路宽度能很好地反映电路的......
目前提高求解SAT问题完全算法的计算效率问题已成为挑战性研究问题。提出了一种基于启发式分组的SAT完备算法。启发式分组策略将一......
自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成,也是芯片设计验证的重要引擎之一.提出了一种组合电路测试产生的代数方法,既可作......
随着集成电路设计规模的日益增大,结合多种推理引擎已成为组合电路形式化等价性验证的重要手段.提出一种基于电路拓扑结构分析的组......
近些年在布尔可满足性(SAT)领域取得了较大进展,一系列基于DPLL框架的优化算法被提出,有效SAT解算器诸如zChaff等已可解决很大规模......
自动测试模式产生(Automatic Test Pattern Generation:ATPG)技术在针对芯片制造缺陷的生产测试中得到广泛应用。ATPG作为测试向量......
VLSI技术的快速提高导致硬件设计复杂性增大,使得检查电路的正确性已经变成一项非常困难的任务。在后面的设计环节中或者等到产品......
