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热轧带钢终轧温度是影响带钢最终成品组织性能的重要因素之一.合理的终轧温度可以使带钢获得良好的组织和性能.而且减少带钢的头尾......
采用探测器几何效率推导了高灵敏度SPECT系统的点源扩展函数，指出了考虑探测器晶体厚度修正的必要性，在小型γ相机上用99m Tc的实验......
采用Bezier曲线分段拟合NACA-65叶型的厚度分布，得到光滑的压气机叶型厚度分布曲线，并用于修改叶型出气边厚度，解决了局部点坐标修改......
通过单层和多层膜的实验模拟,研究了离子束溅射沉积速率和沉积时间的关系.在溅射镀膜的初始阶段,对于Ta2O5,沉积速率随时间增加而......
论述了用四探针法测量半导体片电阻率的基本原理及优缺点。在常规四探针法的缺点是：所使用的探针头的探针间距应相等,对探针的游移......
为了解决四探针技术在微区测量中不能测试较厚样品的问题,提出了一种厚度修正方法.该方法基于镜像源理论,以样品的上下边界为镜面,......
使用有限元法计算穿孔板的声学厚度修正系数,研究穿孔率、穿孔板厚度、孔径和穿孔排列形式对声学厚度的影响,获得了穿孔率低于40%......
采用分散聚合反应体系,原位沉积制备聚苯胺/聚酰亚胺/聚苯胺(PANI/PI/PANI)导电复合膜。根据四探针法测量薄片电导率时对厚度的修......
论述了用四探针法测量半导体片电阻率时,怎样更好地进行厚度修正,结果才更准确。首先讲述经典四探针法中从厚块原理出发和从薄层原......
本文对测量半导体样品电阻率的四探针法进行了介绍,详细讨论了直排四探针法和双电测四探针法的测量方法并给出了相应计算电阻率的......
本文研究用双位组合四探针测量硅材料薄片电阻率的新技术，提出新的计算公式和厚度修正原理。用双位组合法测量不同厚度硅样品所得结......
