四探针法相关论文
摘要：用芘丁酸修饰氧化石墨烯，加入铜离子，与芘丁酸进行羧基耦合，将氧化石墨烯桥连成三维网状结构，形成电子的传输通道，从而增强石墨烯的......
采用直流磁控溅射的方法在普通玻璃上制备了低价的氧化钒薄膜,在氧气和氩气混合气氛中,对所制备的薄膜进行不同时间的热处理,得到......
该论文采用Ｇｌｙｃｉｎｅ－Ｎｉｔｙａｔｅ－Ｐｒｏｃｅｓｓ合成了Ｌａ〈，１－ｘ〉Ｓｒ〈，ｘ〉ＣｒＯ〈，３－５〉粉体材料，并采用ＸＲＤ、ＴＥＭ和粒度分析等方法，对粉体性能进行了研究。经研究发现，合成后粉体颗粒的粒径～５０ｎｍ，其中存在......
半导体纳米晶体（也称为量子点）一直是纳米领域的研究热点,它具有独特的光吸收性质,将其引入到光电复合体系中会改善体系的光电性能。......
无铅焊点的蠕变特性是焊点可靠性问题中的研究热点，本文采用在线微电阻测量的方法，对Sn-3.5Ag焊点的剪切蠕变电阻应变进行了系统的研......
显微拉曼(μRS)在硅半导体器件生产中有许多重要和独特的应用.它可以提供一些非常重要的,于传统表征技术, 如四探针法,TEM, AFM, S......
文章对四探针法测量土壤电阻率的原理进行了研究。假设大地表面层土壤全为同一电阻率为ρ的均匀介质，当接地器中有恒定电流流过时，在......
树木在人类日常生活中不可或缺,树木缺陷识别一直是学者探讨的重要课题。在树木腐朽早期,病变部位的电阻率会大大降低,但当树木病......
利用直流稳态法测量两种不同直径单晶银纳米线在不同温度下的热电性质。结果表明银纳米线导热、导电性质与体材料相比有巨大差异,......
研制了实用的高温超导材料电阻一温度特性测试设备．该设备利用液氮容器梯度温度法控制温度，采用四探针法利用温差电偶测试超导的转变......
论述了用四探针法测量半导体片电阻率的基本原理及优缺点。在常规四探针法的缺点是：所使用的探针头的探针间距应相等,对探针的游移......
利用磁控溅射制备了不同非磁性层厚度的Fe/Cr多层磁性薄膜系统,利用四探针法测定了该多层膜系统在不同磁场下磁电阻效应,用饱和场......
在金属薄膜电阻率测量中,电压的准确测量非常重要。系统的研究了影响电压测量结果的各种误差因素,并分析了界面势垒、温差电势对测......
为了评价导电油墨的导电性,对比研究了印刷导电膜的方块电阻测试方法。从方块电阻的概念出发,介绍了铜棒法和四探针法测试方阻的原......
针对四探针法测量焊点电阻的不足，提出了五探针差分微电阻测量技术。采用四探针法和五探针差分法对试样进行在线测量，并对两种方法采......
按照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》,用四探针法测量硅单晶的电阻率,分析了测试过程中的不确定度来源并量化各分量,计算......
电阻率是太阳电池材料硅片的重要参数之一,也是决定太阳电池光电转换效率的重要参数之一.对于硅片生产单位和使用硅片制造器件的企......
介绍了Mo2C膜的制备过程和对其电阻率的测量结果,探索了其导电机理以及沉积时间、基底温度和生长过程对电阻率的影响.利用Gibbs函......
利用四探针技术对Φ6.5mm×8.9mm的半导体锗单晶圆片的电阻率进行测定,并采用了A、B、C等三种选点方案,结果表明:方案B用少量的测......
本论文针对金刚石对顶砧内超高压下原位电导率测量中存在的问题,采用有限元分析方法,从电极间距、样品厚度、电极电导率、电极与样......
为实现MEMS微小腔体压强测量与监控,提出了基于单金属丝皮拉尼型低压测试方法。采用CFD-ACE＋软件建立微型皮拉尼计有限体积模型,进......
随着人们对电磁波本质和特性认识的不断深入,越来越多的电子设备等得到了广泛应用,使得空间电磁环境日益复杂,一方面体现为电磁波......
以MCS-51单片机为核心组成智能型微电阻测量系统。该系统依据四探针法原理,采用高稳定度的恒流源电路,低漂移、低噪声的直流放大器......
介绍了一种自动测试一般磁电阻和巨磁电阻材料MR比、GMR比的方法。用直列式四探针加载恒流和读出电压信号,由电磁铁提供外加磁场,......
论述了一种测试大型硅片电阻率均匀性的新方法———电阻抗成像技术(EIT)。给出了四探针的基本原理,指出EIT的基本思想来源于四探......
本文用四探针法测量了220纳米厚的银薄膜的电阻率,研究了探针压力对银薄膜电阻率的影响。结果表明:随着探针压力从1.47牛顿增大到4......
采用分散聚合反应体系,原位沉积制备聚苯胺/聚酰亚胺/聚苯胺(PANI/PI/PANI)导电复合膜。根据四探针法测量薄片电导率时对厚度的修......
四探针法是材料学及半导体行业电学表征较常用的方法,其原理简单,能消除接触电阻影响,具有较高的测试精度。由厚块原理和薄层原理......
研究了四探针和双四探针法测量非晶态薄膜合金电阻的几何尺寸效应，提出了一种高精度测量非晶态窄带薄膜合金电阻的新方法，理论和实验......
论述了用四探针法测量半导体片电阻率时,怎样更好地进行厚度修正,结果才更准确。首先讲述经典四探针法中从厚块原理出发和从薄层原......
蠕变损伤是引起无铅焊点失效的一个重要因素,研究其蠕变特性对分析焊点的机械性能、寿命预测以及焊料配方的选择都有重要意义。焊......
本文对测量半导体样品电阻率的四探针法进行了介绍,详细讨论了直排四探针法和双电测四探针法的测量方法并给出了相应计算电阻率的......
通过共混法将不同浓度的聚乙二醇(PEG)加入聚二氧乙基噻吩/聚对苯乙烯磺酸(PEDOT-PSS)中制备了PEDOT-PSS/PEG复合膜。采用四探针法......
