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多扫描树相关论文

扩展相容性多扫描树的设计

针对实际电路具有多个扫描输入的情况，设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构，该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。......

期刊

多扫描树可测性设计全扫描测试 multiple scan tree design for testability full scan test

数字电路测试中扩展相容性多扫描树设计

随着超大规模集成(VLSI)技术的迅猛发展,芯片中晶体管的密度呈指数增长,集成电路的测试日益成为热点和挑战。全扫描测试设计是VLSI......

学位

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